Calibração do método PIXE para análise de amostras espessas (2009)
- Authors:
- Autor USP: TABACNIKS, MANFREDO HARRI - IF
- Unidade: IF
- Subjects: FÍSICA (ESTUDO E ENSINO); DIFRAÇÃO POR RAIOS X
- Language: Português
- Imprenta:
- Conference titles: Simpósio Internacional de Iniciação Científica
-
ABNT
AGUIRRE, Fernando Rodrigues e TABACNIKS, Manfredo Harri. Calibração do método PIXE para análise de amostras espessas. 2009, Anais.. São Paulo: USP, 2009. Disponível em: http://www.usp.br/siicusp/Resumos/17Siicusp/resumos/312.pdf. Acesso em: 16 jan. 2026. -
APA
Aguirre, F. R., & Tabacniks, M. H. (2009). Calibração do método PIXE para análise de amostras espessas. In . São Paulo: USP. Recuperado de http://www.usp.br/siicusp/Resumos/17Siicusp/resumos/312.pdf -
NLM
Aguirre FR, Tabacniks MH. Calibração do método PIXE para análise de amostras espessas [Internet]. 2009 ;[citado 2026 jan. 16 ] Available from: http://www.usp.br/siicusp/Resumos/17Siicusp/resumos/312.pdf -
Vancouver
Aguirre FR, Tabacniks MH. Calibração do método PIXE para análise de amostras espessas [Internet]. 2009 ;[citado 2026 jan. 16 ] Available from: http://www.usp.br/siicusp/Resumos/17Siicusp/resumos/312.pdf - Difusao de tantalo em filmes finos de niquel
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