Análise de artefatos de teste (2009)
- Authors:
- USP affiliated authors: CHAIM, MARCOS LORDELLO - EACH ; BEDER, DELANO MEDEIROS - EACH
- Unidade: EACH
- Subjects: DESENVOLVIMENTO DE SOFTWARE; TESTE E AVALIAÇÃO DE SOFTWARE
- Language: Português
- Imprenta:
- Publisher: Sociedade Brasileira de Computação
- Publisher place: Porto Alegre
- Date published: 2009
- Source:
- Título: Anais
- Conference titles: Workshop de Manutenção de Software Moderna
-
ABNT
CHAIM, Marcos Lordello e ACCIOLY, Anthony e BEDER, Delano Medeiros. Análise de artefatos de teste. 2009, Anais.. Porto Alegre: Sociedade Brasileira de Computação, 2009. . Acesso em: 17 fev. 2026. -
APA
Chaim, M. L., Accioly, A., & Beder, D. M. (2009). Análise de artefatos de teste. In Anais. Porto Alegre: Sociedade Brasileira de Computação. -
NLM
Chaim ML, Accioly A, Beder DM. Análise de artefatos de teste. Anais. 2009 ;[citado 2026 fev. 17 ] -
Vancouver
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