Statistical analysis of the doppler broadening coincidence spectrum of electron-positron annihilation radiation in silicon (2009)
- Authors:
- USP affiliated authors: HELENE, OTAVIANO AUGUSTO MARCONDES - IF ; VANIN, VITO ROBERTO - IF ; CRUZ, MANOEL TIAGO FREITAS DA - IF
- Unidade: IF
- DOI: 10.1016/j.nima.2009.07.051
- Subjects: RAIOS GAMA; DETETORES
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Source:
- Título do periódico: Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section A - Accelerators Spectrometers Detectors and Associated Equipament
- ISSN: 0168-9002
- Volume/Número/Paginação/Ano: v. 609, n. 2-3, p. 244-249, 2009
- Este periódico é de assinatura
- Este artigo é de acesso aberto
- URL de acesso aberto
- Cor do Acesso Aberto: hybrid
- Licença: publisher-specific-oa
-
ABNT
NASCIMENTO, E do et al. Statistical analysis of the doppler broadening coincidence spectrum of electron-positron annihilation radiation in silicon. Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section A - Accelerators Spectrometers Detectors and Associated Equipament, v. 609, n. 2-3, p. 244-249, 2009Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.nima.2009.07.051. Acesso em: 19 abr. 2024. -
APA
Nascimento, E. do, Helene, O. A. M., Vanin, V. R., Cruz, M. T. F. da, & Moralles, M. (2009). Statistical analysis of the doppler broadening coincidence spectrum of electron-positron annihilation radiation in silicon. Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section A - Accelerators Spectrometers Detectors and Associated Equipament, 609( 2-3), 244-249. doi:10.1016/j.nima.2009.07.051 -
NLM
Nascimento E do, Helene OAM, Vanin VR, Cruz MTF da, Moralles M. Statistical analysis of the doppler broadening coincidence spectrum of electron-positron annihilation radiation in silicon [Internet]. Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section A - Accelerators Spectrometers Detectors and Associated Equipament. 2009 ; 609( 2-3): 244-249.[citado 2024 abr. 19 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.nima.2009.07.051 -
Vancouver
Nascimento E do, Helene OAM, Vanin VR, Cruz MTF da, Moralles M. Statistical analysis of the doppler broadening coincidence spectrum of electron-positron annihilation radiation in silicon [Internet]. Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section A - Accelerators Spectrometers Detectors and Associated Equipament. 2009 ; 609( 2-3): 244-249.[citado 2024 abr. 19 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.nima.2009.07.051 - Statistical analysis of the Doppler broadening coincidence spectrum of the electron-positron annihilation
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Informações sobre o DOI: 10.1016/j.nima.2009.07.051 (Fonte: oaDOI API)
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