Calibração do método PIXE para análise de amostras espessas (2008)
- Authors:
- Autor USP: TABACNIKS, MANFREDO HARRI - IF
- Unidade: IF
- Subjects: FÍSICA NUCLEAR; FEIXES; ÍONS
- Language: Português
- Imprenta:
- Source:
- Título: Resumo
- Conference titles: Reunião de Trabalho sobre Física Nuclear no Brasil
-
ABNT
AGUIRRE, Fernando Rodrigues e TABACNIKS, Manfredo Harri. Calibração do método PIXE para análise de amostras espessas. 2008, Anais.. São Paulo: SBF, 2008. Disponível em: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xxxi/sys/resumos/R0112-1.pdf. Acesso em: 26 jan. 2026. -
APA
Aguirre, F. R., & Tabacniks, M. H. (2008). Calibração do método PIXE para análise de amostras espessas. In Resumo. São Paulo: SBF. Recuperado de http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xxxi/sys/resumos/R0112-1.pdf -
NLM
Aguirre FR, Tabacniks MH. Calibração do método PIXE para análise de amostras espessas [Internet]. Resumo. 2008 ;[citado 2026 jan. 26 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xxxi/sys/resumos/R0112-1.pdf -
Vancouver
Aguirre FR, Tabacniks MH. Calibração do método PIXE para análise de amostras espessas [Internet]. Resumo. 2008 ;[citado 2026 jan. 26 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xxxi/sys/resumos/R0112-1.pdf - The laboratory for material analysis with ion beams LAMFI-USP
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