Análise de perfil de campos pequenos de elétrons de 8 e 10 MeV através do dosímetro Fricke Xilenol Gel e protocolo TRS 398

Análise de perfil de campos pequenos de elétrons de 8 e 10 MeV através do dosímetro Fricke Xilenol Gel e protocolo TRS 398 (2008)

Authors:
USP affiliated authors: ALMEIDA, ADELAIDE DE - FFCLRP
Unidades: FFCLRP
Subjects: DOSIMETRIA; ELÉTRONS
Language: Português
Imprenta:
- Publisher: USP
- Place of publication: São Paulo
- Date published: 2008
Source:
- Título do periódico: Resumos
Conference title: Simpósio Internacional de Iniciação Científica (SIICUSP)

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ABNT

SAMPAIO, Francisco G. A.; OLIVEIRA, Lucas N.; MOREIRA, Marcos V.; ALMEIDA, Adelaide de. Análise de perfil de campos pequenos de elétrons de 8 e 10 MeV através do dosímetro Fricke Xilenol Gel e protocolo TRS 398. Anais.. São Paulo: USP, 2008.
APA

Sampaio, F. G. A., Oliveira, L. N., Moreira, M. V., & Almeida, A. de. (2008). Análise de perfil de campos pequenos de elétrons de 8 e 10 MeV através do dosímetro Fricke Xilenol Gel e protocolo TRS 398. In Resumos. São Paulo: USP.
NLM

Sampaio FGA, Oliveira LN, Moreira MV, Almeida A de. Análise de perfil de campos pequenos de elétrons de 8 e 10 MeV através do dosímetro Fricke Xilenol Gel e protocolo TRS 398. Resumos. 2008 ;
Vancouver

Sampaio FGA, Oliveira LN, Moreira MV, Almeida A de. Análise de perfil de campos pequenos de elétrons de 8 e 10 MeV através do dosímetro Fricke Xilenol Gel e protocolo TRS 398. Resumos. 2008 ;