Using a photo-resistor to verify irradiance inverse square and Malus' laws (2008)
- Authors:
- USP affiliated author: MURAMATSU, MIKIYA - IF
- School: IF
- Subjects: ÓPTICA; ÓPTICA (ESTUDO E ENSINO)
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Publisher: The Institute
- Place of publication: New York
- Date published: 2008
- Source:
- Título do periódico: AIP Conference Proceedings
- ISSN: 0094-243X
- Volume/Número/Paginação/Ano: v. 992, p. 192-198, 2008
- Conference title: Ibero-American Meeting on Optics/9th Latin-American on Meeting on Optics, Lasers, and Applications
-
ABNT
TAVARES JUNIOR, A Dias et al. Using a photo-resistor to verify irradiance inverse square and Malus' laws. AIP Conference Proceedings. New York: The Institute. Disponível em: http://scitation.aip.org/getpdf/servlet/GetPDFServlet?filetype=pdf&id=APCPCS000992000001000193000001&idtype=cvips&prog=normal. Acesso em: 01 jul. 2022. , 2008 -
APA
Tavares Junior, A. D., Muramatsu, M., Sosman. L P,, Fonseca, R. J. M., & Mota, L. A. C. R. (2008). Using a photo-resistor to verify irradiance inverse square and Malus' laws. AIP Conference Proceedings. New York: The Institute. Recuperado de http://scitation.aip.org/getpdf/servlet/GetPDFServlet?filetype=pdf&id=APCPCS000992000001000193000001&idtype=cvips&prog=normal -
NLM
Tavares Junior AD, Muramatsu M, Sosman. L P, Fonseca RJM, Mota LACR. Using a photo-resistor to verify irradiance inverse square and Malus' laws [Internet]. AIP Conference Proceedings. 2008 ; 992 192-198.[citado 2022 jul. 01 ] Available from: http://scitation.aip.org/getpdf/servlet/GetPDFServlet?filetype=pdf&id=APCPCS000992000001000193000001&idtype=cvips&prog=normal -
Vancouver
Tavares Junior AD, Muramatsu M, Sosman. L P, Fonseca RJM, Mota LACR. Using a photo-resistor to verify irradiance inverse square and Malus' laws [Internet]. AIP Conference Proceedings. 2008 ; 992 192-198.[citado 2022 jul. 01 ] Available from: http://scitation.aip.org/getpdf/servlet/GetPDFServlet?filetype=pdf&id=APCPCS000992000001000193000001&idtype=cvips&prog=normal - Medida de espaçamento de mostradores de cristal líquido por interferometriaoptica
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