Estudo estrutural e óptico de pós e filmes finos do sistema 'SiO IND.2'-'GeO IND.2'dopado com 'Er POT.3+' visando sua aplicação em óptica integrada (2008)
- Authors:
- Autor USP: GONÇALVES, ROGÉRIA ROCHA - FFCLRP
- Unidade: FFCLRP
- Assunto: TERRAS RARAS
- Language: Português
- Imprenta:
- Source:
- Título: Programa e Resumos
- Conference titles: Reunião Anual da Sociedade Brasileira de Química(SBQ)
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ABNT
MAIA, Lauro J. Q. et al. Estudo estrutural e óptico de pós e filmes finos do sistema 'SiO IND.2'-'GeO IND.2'dopado com 'Er POT.3+' visando sua aplicação em óptica integrada. 2008, Anais.. São Paulo: SBQ, 2008. . Acesso em: 17 jun. 2025. -
APA
Maia, L. J. Q., Gonçalves, R. R., Messaddeq, Y., & Ribeiro, S. J. L. (2008). Estudo estrutural e óptico de pós e filmes finos do sistema 'SiO IND.2'-'GeO IND.2'dopado com 'Er POT.3+' visando sua aplicação em óptica integrada. In Programa e Resumos. São Paulo: SBQ. -
NLM
Maia LJQ, Gonçalves RR, Messaddeq Y, Ribeiro SJL. Estudo estrutural e óptico de pós e filmes finos do sistema 'SiO IND.2'-'GeO IND.2'dopado com 'Er POT.3+' visando sua aplicação em óptica integrada. Programa e Resumos. 2008 ;[citado 2025 jun. 17 ] -
Vancouver
Maia LJQ, Gonçalves RR, Messaddeq Y, Ribeiro SJL. Estudo estrutural e óptico de pós e filmes finos do sistema 'SiO IND.2'-'GeO IND.2'dopado com 'Er POT.3+' visando sua aplicação em óptica integrada. Programa e Resumos. 2008 ;[citado 2025 jun. 17 ] - Guia de luz planar de Si'O IND. 2'-Zr'O IND. 2' dopado com íons 'Er POT. 3+' para aplicação em fotônica
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