Radiopacity and microhardness changes and effect of x-ray operating voltage in resin-based materials before and after the expiration date (2004)
- Authors:
- USP affiliated authors: TIRAPELLI, CAMILA - FORP ; PANZERI, HEITOR - FORP ; SOUZA, FERNANDA DE CARVALHO PANZERI PIRES DE - FORP ; PARDINI, LUIZ CARLOS - FORP ; ZANIQUELLI, OSVALDO - FORP
- Unidade: FORP
- DOI: 10.1590/s1516-14392004000300006
- Subjects: RADIOPACIDADE; MATERIAIS DENTÁRIOS
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Publisher place: São Carlos
- Date published: 2004
- Source:
- Título: Materials Research
- Volume/Número/Paginação/Ano: v. 7, n. 3, p. 409-412, 2004
- Este periódico é de acesso aberto
- Este artigo NÃO é de acesso aberto
-
ABNT
TIRAPELLI, Camila et al. Radiopacity and microhardness changes and effect of x-ray operating voltage in resin-based materials before and after the expiration date. Materials Research, v. 7, n. 3, p. 409-412, 2004Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1590/s1516-14392004000300006. Acesso em: 16 fev. 2026. -
APA
Tirapelli, C., Panzeri, H., Pardini, L. C., & Zaniquelli, O. (2004). Radiopacity and microhardness changes and effect of x-ray operating voltage in resin-based materials before and after the expiration date. Materials Research, 7( 3), 409-412. doi:10.1590/s1516-14392004000300006 -
NLM
Tirapelli C, Panzeri H, Pardini LC, Zaniquelli O. Radiopacity and microhardness changes and effect of x-ray operating voltage in resin-based materials before and after the expiration date [Internet]. Materials Research. 2004 ; 7( 3): 409-412.[citado 2026 fev. 16 ] Available from: https://doi.org/10.1590/s1516-14392004000300006 -
Vancouver
Tirapelli C, Panzeri H, Pardini LC, Zaniquelli O. Radiopacity and microhardness changes and effect of x-ray operating voltage in resin-based materials before and after the expiration date [Internet]. Materials Research. 2004 ; 7( 3): 409-412.[citado 2026 fev. 16 ] Available from: https://doi.org/10.1590/s1516-14392004000300006 - Avaliação da radiopacidade de materiais restauradores estéticos: antes e após a data de validade e em função do KVP
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Informações sobre o DOI: 10.1590/s1516-14392004000300006 (Fonte: oaDOI API)
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