Estudo de padrões de franjas interferométricas aplicadas a sistemas de posicionamento de alta precisão (2007)
- Authors:
- USP affiliated authors: DUDUCH, JAIME GILBERTO - EESC ; PORTO, ARTHUR JOSE VIEIRA - EESC
- Unidade: EESC
- Subjects: REDES NEURAIS; RECONHECIMENTO DE PADRÕES; USINAGEM
- Language: Português
- Imprenta:
- Publisher place: São Carlos
- Date published: 2007
- Source:
- Título: Revista Minerva
- ISSN: 1808-6292
- Volume/Número/Paginação/Ano: v. 4, n. 1, p. 113-119, jan./jun. 2007
-
ABNT
MONTANARI, Luciana e DUDUCH, Jaime Gilberto e PORTO, Arthur José Vieira. Estudo de padrões de franjas interferométricas aplicadas a sistemas de posicionamento de alta precisão. Revista Minerva, v. 4, n. ja/ju 2007, p. 113-119, 2007Tradução . . Acesso em: 09 out. 2024. -
APA
Montanari, L., Duduch, J. G., & Porto, A. J. V. (2007). Estudo de padrões de franjas interferométricas aplicadas a sistemas de posicionamento de alta precisão. Revista Minerva, 4( ja/ju 2007), 113-119. -
NLM
Montanari L, Duduch JG, Porto AJV. Estudo de padrões de franjas interferométricas aplicadas a sistemas de posicionamento de alta precisão. Revista Minerva. 2007 ; 4( ja/ju 2007): 113-119.[citado 2024 out. 09 ] -
Vancouver
Montanari L, Duduch JG, Porto AJV. Estudo de padrões de franjas interferométricas aplicadas a sistemas de posicionamento de alta precisão. Revista Minerva. 2007 ; 4( ja/ju 2007): 113-119.[citado 2024 out. 09 ] - Chip morphology in ductile-regime diamond turning of single crystal silicon
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