Mensurando rugosidade superficial-apresentação de uma nova metodologia (2006)
- Authors:
- Autor USP: VASCONCELLOS, BEATRIZ THOLT DE - FO
- Unidade: FO
- Sigla do Departamento: ODD
- Subjects: RUGOSIDADE SUPERFICIAL; MEDIDAS ESTATÍSTICAS
- Language: Português
- Abstract: Perfilometria e microscopia de força atômica foram utilizadas para caracterização de rugosidade superficial de um material cerâmico (d.Sign - Ivoclar Vivadent). Um novo método, através de cálculos matemáticos com uso da Transformada de Fourier bi-dimensional e programas especialmente elaborados, foi desenvolvido para tornar possível a comparação de resultados entre os dois equipamentos. O emprego dos equipamentos possibilitou a determinação de freqüências espaciais de ampla região de alcance, da escala micrométrica a atômica. Para a cerâmica avaliada, as baixas freqüências foram determinantes para a propriedade de rugosidade superficial. Superfícies cuja morfologia apresente predominantemente freqüências espaciais acima de 1 I-Im-1 devem ter sua rugosidade avaliada por perfilometria. Sugere-se a realização do método aqui apresentado para determinação da escolha do equipamento a ser utilizado para mensurar rugosidade superficial
- Imprenta:
- Data da defesa: 08.12.2006
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ABNT
VASCONCELLOS, Beatriz Tholt de. Mensurando rugosidade superficial-apresentação de uma nova metodologia. 2006. Tese (Doutorado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 2006. . Acesso em: 18 out. 2024. -
APA
Vasconcellos, B. T. de. (2006). Mensurando rugosidade superficial-apresentação de uma nova metodologia (Tese (Doutorado). Universidade de São Paulo, São Paulo. -
NLM
Vasconcellos BT de. Mensurando rugosidade superficial-apresentação de uma nova metodologia. 2006 ;[citado 2024 out. 18 ] -
Vancouver
Vasconcellos BT de. Mensurando rugosidade superficial-apresentação de uma nova metodologia. 2006 ;[citado 2024 out. 18 ]
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