Tese

Análise de confiabilidade de sistemas eletrônicos complexos baseada em ensaios acelerados de vida (2007)

• Authors:
  • Felix, Érico Pessoa
  • Souza, Gilberto Francisco Martha de (Orientador)
• Autor USP: FELIX, ÉRICO PESSÔA - EP
• Unidade: EP
• Sigla do Departamento: PMR
• Subjects: ENSAIOS ACELERADOS; CIRCUITOS ELETRÔNICOS (CONFIABILIDADE)
• Language: Português
• Abstract: O objetivo deste estudo é desenvolver um método para avaliar a confiabilidade de sistemas eletrônicos complexos. A análise proposta baseia-se na aplicação de ensaios de confiabilidade e de normas técnicas, bem como modelos matemáticos para estimação da vida operacional. Os ensaios de confiabilidade executados nesse estudo simulam condições operacionais mais severas que as usualmente enfrentadas pelo sistema, a fim de reduzir o tempo de execução dos ensaios. Ao longo destes, foram coletados os tempos até a falha de diversas amostras do sistema, do quais são submetidas a diferentes condições de operação. O planejamento das variáveis que aceleram os principais modos de falha de componentes eletrônicos e os perfis de solicitação empregados também são discutidos, sendo consideradas as mais importantes a temperatura e a umidade. Através da aplicação de modelos matemáticos para predição da vida nas condições normais de operação, dadas as ocorrências de falhas nas condições aceleradas, a confiabilidade e o tempo médio até a falha são determinados para a central telefônica estudada, tomada como exemplo na aplicação do método. Adicionalmente aos ensaios são desenvolvidas estimativas da confiabilidade da central telefônica através da norma militar US MIL-HDBK-217 F (1991). Os resultados destas estimativas são utilizados para comparação e validação dos resultados obtidos através dos ensaios. Destaca-se que os métodos descritos neste texto não são restritos a aplicação em centrais telefônicas analógicas, mas podem ser empregados a uma grande família de equipamentos eletrônicos de complexidade tecnológica semelhante.
• Imprenta:
  • Publisher place: São Paulo
  • Date published: 2007
• Data da defesa: 15.01.2007


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How to cite

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• ABNT

  FELIX, Érico Pessoa. Análise de confiabilidade de sistemas eletrônicos complexos baseada em ensaios acelerados de vida. 2007. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 2007. Disponível em: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3151/tde-09052007-172853/. Acesso em: 19 set. 2024.

• APA

  Felix, É. P. (2007). Análise de confiabilidade de sistemas eletrônicos complexos baseada em ensaios acelerados de vida (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3151/tde-09052007-172853/

• NLM

  Felix ÉP. Análise de confiabilidade de sistemas eletrônicos complexos baseada em ensaios acelerados de vida [Internet]. 2007 ;[citado 2024 set. 19 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3151/tde-09052007-172853/

• Vancouver

  Felix ÉP. Análise de confiabilidade de sistemas eletrônicos complexos baseada em ensaios acelerados de vida [Internet]. 2007 ;[citado 2024 set. 19 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3151/tde-09052007-172853/

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