Quantitative depth profile study of polyaniline films by photothermal spectroscopies (2007)
- Authors:
- USP affiliated authors: BALOGH, DEBORA TEREZIA - IFSC ; FARIA, ROBERTO MENDONCA - IFSC
- Unidade: IFSC
- DOI: 10.1007/s00339-006-3789-4
- Subjects: ÓPTICA; ESPECTROSCOPIA; FILMES FINOS
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Source:
- Título: Applied Physics A
- ISSN: 0947-8396
- Volume/Número/Paginação/Ano: v. 86, n. 3, p. 395-401, Mar. 2007
- Status:
- Nenhuma versão em acesso aberto identificada
-
ABNT
ALBUQUERQUE, J. E. e BALOGH, Débora Terezia e FARIA, Roberto Mendonça. Quantitative depth profile study of polyaniline films by photothermal spectroscopies. Applied Physics A, v. 86, n. 3, p. 395-401, 2007Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1007/s00339-006-3789-4. Acesso em: 15 abr. 2026. -
APA
Albuquerque, J. E., Balogh, D. T., & Faria, R. M. (2007). Quantitative depth profile study of polyaniline films by photothermal spectroscopies. Applied Physics A, 86( 3), 395-401. doi:10.1007/s00339-006-3789-4 -
NLM
Albuquerque JE, Balogh DT, Faria RM. Quantitative depth profile study of polyaniline films by photothermal spectroscopies [Internet]. Applied Physics A. 2007 ; 86( 3): 395-401.[citado 2026 abr. 15 ] Available from: https://doi.org/10.1007/s00339-006-3789-4 -
Vancouver
Albuquerque JE, Balogh DT, Faria RM. Quantitative depth profile study of polyaniline films by photothermal spectroscopies [Internet]. Applied Physics A. 2007 ; 86( 3): 395-401.[citado 2026 abr. 15 ] Available from: https://doi.org/10.1007/s00339-006-3789-4 - Propriedades eletroluminecente de um novo compósito híbrido derivado da blenda da POMA/PVDF-TrFE e silicato de zinco fosforoso
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