Quantitative depth profile study of polyaniline films by photothermal spectroscopies (2007)
- Authors:
- USP affiliated authors: BALOGH, DEBORA TEREZIA - IFSC ; FARIA, ROBERTO MENDONCA - IFSC
- School: IFSC
- DOI: 10.1007/s00339-006-3789-4
- Subjects: ÓPTICA; ESPECTROSCOPIA; FILMES FINOS
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Source:
- Título do periódico: Applied Physics A
- ISSN: 0947-8396
- Volume/Número/Paginação/Ano: v. 86, n. 3, p. 395-401, Mar. 2007
- Este periódico é de assinatura
- Este artigo é de acesso aberto
- URL de acesso aberto
- Cor do Acesso Aberto: green
-
ABNT
ALBUQUERQUE, J. E. e BALOGH, Débora Terezia e FARIA, Roberto Mendonça. Quantitative depth profile study of polyaniline films by photothermal spectroscopies. Applied Physics A, v. 86, n. 3, p. 395-401, 2007Tradução . . Acesso em: 09 ago. 2022. -
APA
Albuquerque, J. E., Balogh, D. T., & Faria, R. M. (2007). Quantitative depth profile study of polyaniline films by photothermal spectroscopies. Applied Physics A, 86( 3), 395-401. doi:10.1007/s00339-006-3789-4 -
NLM
Albuquerque JE, Balogh DT, Faria RM. Quantitative depth profile study of polyaniline films by photothermal spectroscopies. Applied Physics A. 2007 ; 86( 3): 395-401.[citado 2022 ago. 09 ] -
Vancouver
Albuquerque JE, Balogh DT, Faria RM. Quantitative depth profile study of polyaniline films by photothermal spectroscopies. Applied Physics A. 2007 ; 86( 3): 395-401.[citado 2022 ago. 09 ] - Indium-tin oxide (ITO) films characterization for use on polymer light-emitting diodes
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Informações sobre o DOI: 10.1007/s00339-006-3789-4 (Fonte: oaDOI API)
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