Film thickness and wave velocity measurement using reflected laser intensity (2006)
- Authors:
- Autor USP: YANAGIHARA, JURANDIR ITIZO - EP
- Unidade: EP
- DOI: 10.1590/s1678-58782006000100003
- Subjects: FILMES FINOS (MEDIÇÃO;INSTRUMENTAÇÃO); LASER (APLICAÇÕES); ELETROMAGNETISMO; FOTOGRAFIA; SENSORES ÓTICOS; FOTOGRAFIA
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Publisher place: Rio de Janeiro
- Date published: 2006
- Source:
- Título: Journal of the Brazilian Society of Mechanical Sciences and Engineering
- ISSN: 1679-7817
- Volume/Número/Paginação/Ano: v. 28 n. 1, p. 31-36, Jan./Mar. 2006
- Este periódico é de assinatura
- Este artigo é de acesso aberto
- URL de acesso aberto
- Cor do Acesso Aberto: hybrid
- Licença: cc-by-nc
-
ABNT
OLIVEIRA, Fábio Stabile de e YANAGIHARA, Jurandir Itizo e PACIFICO, Antonio Luiz. Film thickness and wave velocity measurement using reflected laser intensity. Journal of the Brazilian Society of Mechanical Sciences and Engineering, v. 28 n. 1, n. Ja/Mar. 2006, p. 31-36, 2006Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1590/s1678-58782006000100003. Acesso em: 09 jan. 2026. -
APA
Oliveira, F. S. de, Yanagihara, J. I., & Pacifico, A. L. (2006). Film thickness and wave velocity measurement using reflected laser intensity. Journal of the Brazilian Society of Mechanical Sciences and Engineering, 28 n. 1( Ja/Mar. 2006), 31-36. doi:10.1590/s1678-58782006000100003 -
NLM
Oliveira FS de, Yanagihara JI, Pacifico AL. Film thickness and wave velocity measurement using reflected laser intensity [Internet]. Journal of the Brazilian Society of Mechanical Sciences and Engineering. 2006 ; 28 n. 1( Ja/Mar. 2006): 31-36.[citado 2026 jan. 09 ] Available from: https://doi.org/10.1590/s1678-58782006000100003 -
Vancouver
Oliveira FS de, Yanagihara JI, Pacifico AL. Film thickness and wave velocity measurement using reflected laser intensity [Internet]. Journal of the Brazilian Society of Mechanical Sciences and Engineering. 2006 ; 28 n. 1( Ja/Mar. 2006): 31-36.[citado 2026 jan. 09 ] Available from: https://doi.org/10.1590/s1678-58782006000100003 - Desenvolvimento de um radiômetro da cavidade elipsoidal de alta sensibilidade
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Informações sobre o DOI: 10.1590/s1678-58782006000100003 (Fonte: oaDOI API)
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| Tipo | Nome | Link | |
|---|---|---|---|
| Pacifico-2006-Film thickn... |
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