Quantização de resistência a partir de filmes finos e rastos iônicos (2004)
- Authors:
- Autor USP: ADDED, NEMITALA - IF
- Unidade: IF
- Subjects: FÍSICA (ESTUDO E ENSINO;SIMPÓSIOS); REAÇÕES NUCLEARES (ESTUDO E ENSINO;SIMPÓSIOS); FÍSICA NUCLEAR (ESTUDO E ENSINO;SIMPÓSIOS)
- Language: Português
- Imprenta:
- Source:
- Título do periódico: Resumos
- Volume/Número/Paginação/Ano: São Paulo : USP, 2004
- Conference titles: Simpósio Internacional de Iniciação Científica da Universidade de São Paulo
-
ABNT
CARMIGNOTTO, Marco Antonio Pannunzio e ADDED, Nemitala. Quantização de resistência a partir de filmes finos e rastos iônicos. 2004, Anais.. São Paulo: USP, 2004. . Acesso em: 19 set. 2024. -
APA
Carmignotto, M. A. P., & Added, N. (2004). Quantização de resistência a partir de filmes finos e rastos iônicos. In Resumos. São Paulo: USP. -
NLM
Carmignotto MAP, Added N. Quantização de resistência a partir de filmes finos e rastos iônicos. Resumos. 2004 ;[citado 2024 set. 19 ] -
Vancouver
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