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Crescimento e caraterização de GaN dopado com carbono e de ligas de InGaN não dopadas na fase cúbica (2004)

  • Authors:
  • USP affiliated authors: SALAZAR, DAVID GREGORIO PACHECO - IF
  • Unidades: IF
  • Sigla do Departamento: FMT
  • Subjects: SEMICONDUTORES; ÓPTICA ELETRÔNICA; DISPOSITIVOS ELETRÔNICOS; FOTOLUMINESCÊNCIA; SEMICONDUTORES
  • Language: Português
  • Abstract: Existe um grande interese nos nitretos de Ga e In, assim como as suas ligas, por seu potencial na fabricação de dispositivos optoeletrônicos que operam na região do espectro eletromagnético de amarelo-verde até perto da região UV. Deste materiais, a estrutura cúbica (zincblende) apresenta a vantagem sobre a sua contraparte hexagonal principalmente por estar livre do efeito piezoelétrico que separa os elétrons e buracos diminuindo a eficiência de recombinação. Este trabalho descreve o crescimento e caracterização de GaN cúbico dopado com carbono e de ligas, também cúbicas, de InGaN crescidas sobre diferentes substratos. As amostras foram crescidas por Epitaxia de Feixe Molecular (Molecular Beam Epitaxy ou MBE) assistido por plasma. Várias técnicas experimentais foram utilizadas para caracterizar as amostras assim crescidas. A aplicação desta técnicas nos permitiu obter informação detalhada sobre diversos aspectos importantes destes materiais. Esta técnicas vão desde várias formas de difração e raios-X até diversas formas de espalhamento de luz. O uso combinado de todas estas técnicas foi crucial para determinar as propriedades fundamentais destes materiais, tais como a qualidade cristalina, o estado de tensão das camadas ativas e, para as ligas, o grau e tipo de separação de fase (resultando em regiões de diferente conteúdo de In, com conseqüente diferença nas energias dos gaps). Dentre os resultados principais destacamos o de determinar o mecanismo deincorporação de carbono nos filmes de GaN, atingindo altas concentrações de portadores e boa qualidade cristalina. Nas ligas de InGaN depositadas sobre SiC (filmes tensionados), o único que indica que haveria uma separação de fase é o Stokes-like shift gigante e constante e o fato de que em medidas de PL, com energia de excitação abaixo da borda de absorção da liga, ainda pode ser visto o pico de recombinação. Já, em amostras parcialmente relaxadas como ) os filmes de InGaN depositados sobre substratos de GaAs, teríamos também esta separação de fase com uma fase minoritária (rica em In) e outras duas fases correspondente à liga bulk com fração molar de In próximas entre si. Em particular, as técnicas de fotoluminescência e fotoluminescência de excitação são insubstituíveis na detecção de fases segregadas
  • Imprenta:
  • Data da defesa: 26.11.2004

  • How to cite
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    • ABNT

      SALAZAR, David Gregorio Pacheco; SCOLFARO, Luisa Maria Ribeiro. Crescimento e caraterização de GaN dopado com carbono e de ligas de InGaN não dopadas na fase cúbica. 2004.Universidade de São Paulo, São Paulo, 2004.
    • APA

      Salazar, D. G. P., & Scolfaro, L. M. R. (2004). Crescimento e caraterização de GaN dopado com carbono e de ligas de InGaN não dopadas na fase cúbica. Universidade de São Paulo, São Paulo.
    • NLM

      Salazar DGP, Scolfaro LMR. Crescimento e caraterização de GaN dopado com carbono e de ligas de InGaN não dopadas na fase cúbica. 2004 ;
    • Vancouver

      Salazar DGP, Scolfaro LMR. Crescimento e caraterização de GaN dopado com carbono e de ligas de InGaN não dopadas na fase cúbica. 2004 ;

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