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Estudo comparativo da análise de macrotextura pelas técnicas de difração de raios X e difração de elétrons retroespalhados (2002)

  • Authors:
  • USP affiliated author: SERNA, MARILENE MORELLI - IPEN
  • School: IPEN
  • Subjects: TEXTURA; DIFRAÇÃO POR RAIOS X; MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA
  • Language: Português
  • Imprenta:
  • Data da defesa: 18.12.2002

  • How to cite
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    • ABNT

      SERNA, Marilene Morelli; LIMA, Nelson Batista de. Estudo comparativo da análise de macrotextura pelas técnicas de difração de raios X e difração de elétrons retroespalhados. 2002.Universidade de São Paulo, São Paulo, 2002.
    • APA

      Serna, M. M., & Lima, N. B. de. (2002). Estudo comparativo da análise de macrotextura pelas técnicas de difração de raios X e difração de elétrons retroespalhados. Universidade de São Paulo, São Paulo.
    • NLM

      Serna MM, Lima NB de. Estudo comparativo da análise de macrotextura pelas técnicas de difração de raios X e difração de elétrons retroespalhados. 2002 ;
    • Vancouver

      Serna MM, Lima NB de. Estudo comparativo da análise de macrotextura pelas técnicas de difração de raios X e difração de elétrons retroespalhados. 2002 ;

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