Estimação não-paramétrica da taxa de falha acumulada de um processo pontual (2003)
- Authors:
- Autor USP: MENDES, FABRIZIO TEIXEIRA - ICMC
- Unidade: ICMC
- Sigla do Departamento: SCE
- Assunto: ESTIMAÇÃO NÃO PARAMÉTRICA
- Language: Português
- Abstract: Vários autores tem construído estimadores de Bayes não-paramétricos para a função de distribuição acumulada. A distribuição à priori tem, por exemplo, sido processos de Dirichlet, processos neutral to the right. Neste trabalho nós estudamos o problema de achar estimadores de Bayes não-paramétricos para a taxa de falha acumulada de um processo pontual baseado no modelo de intensidade multiplicativo de Aalen. Desta forma nós consideramos uma classe conjugada de processos de Lévy chamados de processos beta e apresentamos fórmulas para obter um processo posterior. O estimador de Bayes é comparado com dois outros estimadores não-paramétricos, Kaplan-Meier e Nelson-Aalen e um estimador paramétrico, a taxa de falha acumulada de uma distribuição Weibull
- Imprenta:
- Publisher place: São Carlos
- Date published: 2003
- Data da defesa: 27.03.2003
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ABNT
MENDES, Fabrizio Teixeira. Estimação não-paramétrica da taxa de falha acumulada de um processo pontual. 2003. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Carlos, 2003. . Acesso em: 12 jul. 2025. -
APA
Mendes, F. T. (2003). Estimação não-paramétrica da taxa de falha acumulada de um processo pontual (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Carlos. -
NLM
Mendes FT. Estimação não-paramétrica da taxa de falha acumulada de um processo pontual. 2003 ;[citado 2025 jul. 12 ] -
Vancouver
Mendes FT. Estimação não-paramétrica da taxa de falha acumulada de um processo pontual. 2003 ;[citado 2025 jul. 12 ]
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