Caracterização nanoestrutural de filmes finos do grupo IV-B depositados por sputtering magnetron (2002)
- Authors:
- Autor USP: CHINAGLIA, ELIANE DE FATIMA - IF
- Unidade: IF
- Sigla do Departamento: FMT
- Subjects: FILMES FINOS; MATÉRIA CONDENSADA
- Language: Português
- Imprenta:
- Data da defesa: 11.11.2002
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ABNT
CHINAGLIA, Eliane F. Caracterização nanoestrutural de filmes finos do grupo IV-B depositados por sputtering magnetron. 2002. Tese (Doutorado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 2002. . Acesso em: 11 nov. 2024. -
APA
Chinaglia, E. F. (2002). Caracterização nanoestrutural de filmes finos do grupo IV-B depositados por sputtering magnetron (Tese (Doutorado). Universidade de São Paulo, São Paulo. -
NLM
Chinaglia EF. Caracterização nanoestrutural de filmes finos do grupo IV-B depositados por sputtering magnetron. 2002 ;[citado 2024 nov. 11 ] -
Vancouver
Chinaglia EF. Caracterização nanoestrutural de filmes finos do grupo IV-B depositados por sputtering magnetron. 2002 ;[citado 2024 nov. 11 ]
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