Probabilidade de persistência e expoentes críticos dinâmicos em autômatos celulares e em um processo de contato (2002)
- Authors:
- Autor USP: FELICIO, JOSE ROBERTO DRUGOWICH DE - FFCLRP
- Unidade: FFCLRP
- Assunto: FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA
- Language: Português
- Imprenta:
- Source:
- Título do periódico: Resumos
- Conference titles: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada
-
ABNT
SILVA, Roberto da; FELÍCIO, José Roberto Drugowich de; TOMÉ, Tânia. Probabilidade de persistência e expoentes críticos dinâmicos em autômatos celulares e em um processo de contato. Anais.. Caxambu: [s.n.], 2002. -
APA
Silva, R. da, Felício, J. R. D. de, & Tomé, T. (2002). Probabilidade de persistência e expoentes críticos dinâmicos em autômatos celulares e em um processo de contato. In Resumos. Caxambu. -
NLM
Silva R da, Felício JRD de, Tomé T. Probabilidade de persistência e expoentes críticos dinâmicos em autômatos celulares e em um processo de contato. Resumos. 2002 ; -
Vancouver
Silva R da, Felício JRD de, Tomé T. Probabilidade de persistência e expoentes críticos dinâmicos em autômatos celulares e em um processo de contato. Resumos. 2002 ; - Avaliacao de professores
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