Atom force microscopy characterization of treated surface glassy polymeric carbon (2001)
- Authors:
- Autor USP: ZIMMERMAN, ROBERT LEE - FFCLRP
- Unidade: FFCLRP
- Assunto: FÍSICA
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Publisher place: São Lourenço
- Date published: 2001
- Conference titles: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada
-
ABNT
RODRIGUES, Marcello Gonçalves et al. Atom force microscopy characterization of treated surface glassy polymeric carbon. 2001, Anais.. São Lourenço: Faculdade de Filosofia, Ciências e Letras de Ribeirão Preto, Universidade de São Paulo, 2001. . Acesso em: 10 mar. 2026. -
APA
Rodrigues, M. G., Zimmerman, R. L., Ila, D., & Evelyn, L. (2001). Atom force microscopy characterization of treated surface glassy polymeric carbon. In . São Lourenço: Faculdade de Filosofia, Ciências e Letras de Ribeirão Preto, Universidade de São Paulo. -
NLM
Rodrigues MG, Zimmerman RL, Ila D, Evelyn L. Atom force microscopy characterization of treated surface glassy polymeric carbon. 2001 ;[citado 2026 mar. 10 ] -
Vancouver
Rodrigues MG, Zimmerman RL, Ila D, Evelyn L. Atom force microscopy characterization of treated surface glassy polymeric carbon. 2001 ;[citado 2026 mar. 10 ] - Chaotic behavior of a boucing ball
- Atividades durante 1993-1994 afastamento nas atividades de interesse do dgfm
- Silutaneous application of ('P IND.1') and ('P IND.1') chamineling to the detection of light elements in crystals
- Ion beam enhenced electrical conductivity in polimers
- Electric field induced de-chameling in 'LI''NB''O IND.3'
- Fabrication of copper and gold nanoclusters in MgO (100) by MEV ion implantation
- Novel technique to detect the hydrogen content of polyethylene
- Optinized system for detection of hydrogen
- Carbon drug delivery system for lithium
- Resonant scatterning assisted light element analysis
How to cite
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas