Espectroscopia de raios X na faixa de energia de 5 a 200 KeV, utilizando fotodiodos PIN de silício (2001)
- Authors:
- Autor USP: SILVA, MARCIA DE CARVALHO - IF
- Unidade: IF
- Sigla do Departamento: FEP
- DOI: 10.11606/D.43.2001.tde-02082013-163614
- Subjects: FÍSICA; ESPECTROSCOPIA; DIAGNÓSTICO POR IMAGEM; RADIOGRAFIA; RAIOS X
- Keywords: RADIODIAGNOSTICO; FOTODIODOS; PHOTODIODES; RADIOLOGY; SPECTROSCOPY; X-RAYS
- Agências de fomento:
- Language: Português
- Abstract: O conhecimento da distribuição espectral da radiação X emitida por unidades de radiodiagnóstico fornece importantes informações, que podem ser aplicadas aos programas de Garantia de Qualidade e de Proteção Radiológica. Detectores que utilizam fotodiodos PIN de Si como ponta de prova vêm sendo utilizados nos últimos anos devido, principalmente, ao seu baixo custo e por trabalharem à temperatura ambiente, não precisando dos tanques de nitrogênio líquido necessários em detectores de Gee Si(Li). Embora, a princípio, os fotodiodos PIN tenham uma pior resolução, quando comparada com os detectores de Ge, ela é suficientemente boa para a maior parte das aplicações em radiodiagnóstico. Além disso, o desenvolvimento de sistemas refrigerados termoeletricamente e de pré-amplificadores de baixo ruído têm feito com que os fotodiodos PIN cheguem a resoluções comparáveis às do Ge. Este trabalho visa estabelecer as propriedades de detectores constituídos por fotodiodos PIN de Si e desenvolver o processo de correção dos espectros brutos para a eficiência do detector e outros fatores pertinentes, a fim de se obter o espectro real emitido por equipamentos de radiodiagnóstico. Espectros de radiação de equipamentos de radiodiagnóstico obtidos experimentalmente foram comparados com espectros teóricos calculados a partir de um modelo semi-empírico.Além disso, foram obtidos espectros de radiação emitidos por unidades de mamografia, espalhados por um objeto simulador de mama. Como aplicação direta dos espectros medidos experimentalmente, foram desenvolvidas metodologias para a determinação da tensão aceleradora de tubos de Raios X (kVp), para fins de calibração de medidores de kVp, e da camada semi-redutora (CRS) dos feixes de interesse
- Imprenta:
- Data da defesa: 21.02.2001
- Este periódico é de acesso aberto
- Este artigo NÃO é de acesso aberto
-
ABNT
SILVA, Marcia de Carvalho. Espectroscopia de raios X na faixa de energia de 5 a 200 KeV, utilizando fotodiodos PIN de silício. 2001. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 2001. Disponível em: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-02082013-163614/. Acesso em: 28 jan. 2026. -
APA
Silva, M. de C. (2001). Espectroscopia de raios X na faixa de energia de 5 a 200 KeV, utilizando fotodiodos PIN de silício (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-02082013-163614/ -
NLM
Silva M de C. Espectroscopia de raios X na faixa de energia de 5 a 200 KeV, utilizando fotodiodos PIN de silício [Internet]. 2001 ;[citado 2026 jan. 28 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-02082013-163614/ -
Vancouver
Silva M de C. Espectroscopia de raios X na faixa de energia de 5 a 200 KeV, utilizando fotodiodos PIN de silício [Internet]. 2001 ;[citado 2026 jan. 28 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-02082013-163614/
Informações sobre o DOI: 10.11606/D.43.2001.tde-02082013-163614 (Fonte: oaDOI API)
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