Caracterização magnética e magnetoóptica de filmes finos amorfos de terra rara-Fe-Co (2000)
- Authors:
- Autor USP: SANTI, CARLOS EDUARDO - IF
- Unidade: IF
- Sigla do Departamento: FMT
- Subjects: MATERIAIS MAGNÉTICOS; FILMES FINOS
- Language: Português
- Abstract: Construímos um magnetômetro a efeito Kerr na configuração polar (MEK-pol) que permite fazer medidas com a amostra entre 7 a 400K em campos magnéticos de até 20kOe. Esse equipamento possibilita obter informações sobre a componente perpendicular damagnetização das amostras e foi adaptado a outro que fornece dados relativos a componentes planar, aumentando sua capacidade de caracterização. Para testar esse sistema, foram utilizados filmes finos amorfos de Tb-Fe e Tb-Fe-Co, com 20 a 30% detérbio, pois eles podem apresentar anisotropia magnética perpendicular ao plano do filme. Os filmes foram produzidos por sputterings, têm espessura entre 800Á e 1000Á e sua caracterização magnética foi feita com um magnetômetro de amostravibrante (MAV), à temperatura ambiente e com um SQUID. Essas informações foram usadas como parâmetro para os testes com o MEK-pol demonstraram que o equipamento é estável, mesmo para medidas em baixas temperaturas e que é uma ferramentaimportante na caracterização magnetoóptica de filmes finos
- Imprenta:
- Data da defesa: 11.04.2000
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ABNT
SANTI, Carlos Eduardo. Caracterização magnética e magnetoóptica de filmes finos amorfos de terra rara-Fe-Co. 2000. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 2000. . Acesso em: 01 mar. 2026. -
APA
Santi, C. E. (2000). Caracterização magnética e magnetoóptica de filmes finos amorfos de terra rara-Fe-Co (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Paulo. -
NLM
Santi CE. Caracterização magnética e magnetoóptica de filmes finos amorfos de terra rara-Fe-Co. 2000 ;[citado 2026 mar. 01 ] -
Vancouver
Santi CE. Caracterização magnética e magnetoóptica de filmes finos amorfos de terra rara-Fe-Co. 2000 ;[citado 2026 mar. 01 ]
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