Caracterização de catalisadores de cobre por XPS e XAS (2000)
- Authors:
- Autor USP: MASTELARO, VALMOR ROBERTO - IFSC
- Unidade: IFSC
- Assunto: MATÉRIA CONDENSADA
- Language: Português
- Imprenta:
- Publisher: Sociedade Brasileira de Física
- Publisher place: São Paulo
- Date published: 2000
- Source:
- Título do periódico: Resumo
- Conference titles: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada
-
ABNT
FRANCISCO, Maria Suzana Prataviera; MASTELARO, Valmor Roberto; FLORENTINO, Ariovaldo de Oliveira; NASCENTE, Pedro A. P. Caracterização de catalisadores de cobre por XPS e XAS. Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física, 2000. -
APA
Francisco, M. S. P., Mastelaro, V. R., Florentino, A. de O., & Nascente, P. A. P. (2000). Caracterização de catalisadores de cobre por XPS e XAS. In Resumo. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física. -
NLM
Francisco MSP, Mastelaro VR, Florentino A de O, Nascente PAP. Caracterização de catalisadores de cobre por XPS e XAS. Resumo. 2000 ; -
Vancouver
Francisco MSP, Mastelaro VR, Florentino A de O, Nascente PAP. Caracterização de catalisadores de cobre por XPS e XAS. Resumo. 2000 ; - Comportamento térmico de filmes finos da fase 'beta'-Ba'B IND.2''O IND.4' obtidos pelo método Pechini utilizando o sistema ternário BaO-'B IND.2''O IND.3'-Ti'O IND.2'
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