Aplicações não tradicionais de um acelerador Tanden para pesquisa em colisões atômicas e moleculares (1999)
- Authors:
- Faria, N. V. de Castro - Universidade Federal do Rio de Janeiro (UFRJ)
- Magalhães, S. D. - Universidade Federal do Rio de Janeiro (UFRJ)
- Luna, H. - Universidade Federal do Rio de Janeiro (UFRJ)
- Bessa Filho, E. - Universidade Federal do Rio de Janeiro (UFRJ)
- Zappa, F. - Universidade Federal do Rio de Janeiro (UFRJ)
- Santos, W. M. S. - Universidade Federal do Rio de Janeiro (UFRJ)
- Acquadro Quacchia, Juan Carlos
- Autor USP: QUACCHIA, JUAN CARLOS ACQUADRO - IF
- Unidade: IF
- Assunto: MATÉRIA CONDENSADA
- Language: Português
- Imprenta:
- Source:
- Título: Resumos
- Conference titles: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada
-
ABNT
FARIA, N. V. de Castro et al. Aplicações não tradicionais de um acelerador Tanden para pesquisa em colisões atômicas e moleculares. 1999, Anais.. São Paulo: SBF, 1999. . Acesso em: 15 fev. 2026. -
APA
Faria, N. V. de C., Magalhães, S. D., Luna, H., Bessa Filho, E., Zappa, F., Santos, W. M. S., & Acquadro Quacchia, J. C. (1999). Aplicações não tradicionais de um acelerador Tanden para pesquisa em colisões atômicas e moleculares. In Resumos. São Paulo: SBF. -
NLM
Faria NV de C, Magalhães SD, Luna H, Bessa Filho E, Zappa F, Santos WMS, Acquadro Quacchia JC. Aplicações não tradicionais de um acelerador Tanden para pesquisa em colisões atômicas e moleculares. Resumos. 1999 ;[citado 2026 fev. 15 ] -
Vancouver
Faria NV de C, Magalhães SD, Luna H, Bessa Filho E, Zappa F, Santos WMS, Acquadro Quacchia JC. Aplicações não tradicionais de um acelerador Tanden para pesquisa em colisões atômicas e moleculares. Resumos. 1999 ;[citado 2026 fev. 15 ] - Laboratorio para analise de materiais por feixes ionicos (lamfi)
- Construcao de um medidor de emitancia para feixes de altas energias
- Beam optics studies. Part ii. Transport from usp linac entrance to three target areas
- Projeto de um sistema optico para microfeixes
- Resultados recentes do programa brasileiro de ams
- Perda de energia de ions de helio rapidos canalizados em silicio
- Metodo pige no laboratorio de analise de materiais por feixes ionicos
- Óptica iônica do sistema de aceleradores: Pelletron-LINAC
- Novo metodo para determinacao de perfil de vacuo residual utilizando o fenomeno de troca de carga
- Seções de choque de perda de elétrons do 'Si POT. -' colidindo com 'N IND. 2'
How to cite
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas