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Análises quantitativas por difração de raios-X em engenharia mineral: aplicação dos métodos de Rietveld e do padrão interno (1999)

  • Authors:
  • Autor USP: FRONZAGLIA, GABRIELA CAMPOS - EP
  • Unidade: EP
  • Sigla do Departamento: PMI
  • Assunto: ENGENHARIA DE MINAS
  • Language: Português
  • Abstract: relativas à pelo menos três montagens da mesma amostra no suporte. No método de Rietveld avaliou-se os resultados quantitativos em função de refinamentos nas faixas angulares de 10 a 70'UNIDADE DE DESLOCAMENTO DOGONIÔMETRO' e de 10 a 130'UNIDADE DE DESLOCAMENTO DO GONIÔMETRO'. A reprodutibilidade do método de Rietveld foi avaliada através de triplicatas de amostras constituídas por quartzo, calcita e dolomita. Uma análise comparativa entre os dois métodos e as ) potencialidades de suas aplicações é apresentada nas considerações finaisEste trabalho surgiu do interesse de se avaliar a potencialidade da aplicação do método de Rietveld na prática da tecnologia mineral, uma vez que este desponta como uma ferramenta alternativa aos procedimentos tradicionais utilizados para quantificação de minerais por difração de raios-X e outros métodos convencionais. Os métodos do padrão interno e de Rietveld de análises quantitativas por difração de raios-X foram aplicados a misturas de quartzo e hematita e de quartzo e calcita, enfatizando-se os problemas envolvidos na preparação de amostras e na aplicação destes métodos, com o enfoque na viabilidade de seu uso prático para a realidade da engenharia mineral. Com relação à preparação de amostras procurou-se avaliar não só o comportamento da distribuição do tamanho de partículas, como também as intensidades obtidas por altura de pico e integradas, em função das condições de moagem (tempo e intensidade) para amostras de minerais puros. Ar e produtibilidade das intensidades difratadas foi avaliada em relação à várias montagens de uma mesma amostra no suporte. Radiação de CoK'alfa' foi empregada somente para as amostras constituídas por quartzo e hematita, visando avaliar a relevância dos efeitos de microabsorção. Curvas de calibração foram estabelecidas a partir do método do padrão interno para dois a três picos difratados de cada fase mineral presente nas misturas; os pontos das curvas foram representadas pela média de intensidades integradas
  • Imprenta:
  • Data da defesa: 24.11.1999

  • How to cite
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    • ABNT

      FRONZAGLIA, Gabriela Campos; KAHN, Henrique. Análises quantitativas por difração de raios-X em engenharia mineral: aplicação dos métodos de Rietveld e do padrão interno. 1999.Universidade de São Paulo, São Paulo, 1999.
    • APA

      Fronzaglia, G. C., & Kahn, H. (1999). Análises quantitativas por difração de raios-X em engenharia mineral: aplicação dos métodos de Rietveld e do padrão interno. Universidade de São Paulo, São Paulo.
    • NLM

      Fronzaglia GC, Kahn H. Análises quantitativas por difração de raios-X em engenharia mineral: aplicação dos métodos de Rietveld e do padrão interno. 1999 ;
    • Vancouver

      Fronzaglia GC, Kahn H. Análises quantitativas por difração de raios-X em engenharia mineral: aplicação dos métodos de Rietveld e do padrão interno. 1999 ;

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