Z-scan measurements with Fourier analysis in ion-doped solids (1997)
- Authors:
- Autor USP: ZILIO, SERGIO CARLOS - IFSC
- Unidade: IFSC
- DOI: 10.1063/1.119352
- Subjects: MATÉRIA CONDENSADA; MATÉRIA CONDENSADA
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Source:
- Título do periódico: Applied Physics Letters
- Volume/Número/Paginação/Ano: v. 71, n. 5, p. 2094-2096, oct. 1997
- Este periódico é de assinatura
- Este artigo NÃO é de acesso aberto
- Cor do Acesso Aberto: closed
-
ABNT
MENDONÇA, Cleber Renato; MISOGUTI, Lino; ZÍLIO, Sérgio Carlos. Z-scan measurements with Fourier analysis in ion-doped solids. Applied Physics Letters, New York, v. 71, n. 5, p. 2094-2096, 1997. DOI: 10.1063/1.119352. -
APA
Mendonça, C. R., Misoguti, L., & Zílio, S. C. (1997). Z-scan measurements with Fourier analysis in ion-doped solids. Applied Physics Letters, 71( 5), 2094-2096. doi:10.1063/1.119352 -
NLM
Mendonça CR, Misoguti L, Zílio SC. Z-scan measurements with Fourier analysis in ion-doped solids. Applied Physics Letters. 1997 ; 71( 5): 2094-2096. -
Vancouver
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Informações sobre o DOI: 10.1063/1.119352 (Fonte: oaDOI API)
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