Propriedades estruturais e eletronicas de impurezas de oxigenio em silicio (1996)
- Authors:
- Autor USP: CALDAS, MARILIA JUNQUEIRA - IF
- Unidade: IF
- Subjects: MATÉRIA CONDENSADA; MATERIA CONDENSADA (PROPRIEDADES TÉRMICAS)
- Language: Português
- Imprenta:
- Publisher: Sociedade Brasileira de Fisica
- Publisher place: São Paulo
- Date published: 1996
- Source:
- Título: Resumos
- Conference titles: Encontro Nacional de Fisica da Materia Condensada
-
ABNT
BAIERLE, Rogerio Jose e CALDAS, Marilia Junqueira. Propriedades estruturais e eletronicas de impurezas de oxigenio em silicio. 1996, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Fisica, 1996. . Acesso em: 11 fev. 2026. -
APA
Baierle, R. J., & Caldas, M. J. (1996). Propriedades estruturais e eletronicas de impurezas de oxigenio em silicio. In Resumos. São Paulo: Sociedade Brasileira de Fisica. -
NLM
Baierle RJ, Caldas MJ. Propriedades estruturais e eletronicas de impurezas de oxigenio em silicio. Resumos. 1996 ;[citado 2026 fev. 11 ] -
Vancouver
Baierle RJ, Caldas MJ. Propriedades estruturais e eletronicas de impurezas de oxigenio em silicio. Resumos. 1996 ;[citado 2026 fev. 11 ] - Optical emission from smale Si particles
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