Determinacao do perfil de tensao em filmes finos por microelipsometria (1993)
- Authors:
- Autor USP: AEGERTER, MICHEL ANDRE - IFSC
- Unidade: IFSC
- Subjects: MATÉRIA CONDENSADA; SUPERFÍCIE FÍSICA; MATÉRIA CONDENSADA
- Language: Português
- Imprenta:
- Publisher: Associacao Brasileira de Ceramica
- Publisher place: São Paulo
- Date published: 1993
- Source:
- Título: Anais
- Conference titles: Congresso Brasileiro de Ceramica
-
ABNT
BARROS FILHO, D A e AEGERTER, M A. Determinacao do perfil de tensao em filmes finos por microelipsometria. 1993, Anais.. São Paulo: Associacao Brasileira de Ceramica, 1993. . Acesso em: 15 out. 2024. -
APA
Barros Filho, D. A., & Aegerter, M. A. (1993). Determinacao do perfil de tensao em filmes finos por microelipsometria. In Anais. São Paulo: Associacao Brasileira de Ceramica. -
NLM
Barros Filho DA, Aegerter MA. Determinacao do perfil de tensao em filmes finos por microelipsometria. Anais. 1993 ;[citado 2024 out. 15 ] -
Vancouver
Barros Filho DA, Aegerter MA. Determinacao do perfil de tensao em filmes finos por microelipsometria. Anais. 1993 ;[citado 2024 out. 15 ] - Sistema eletrocrômico de estado sólido: propostas de protótipos
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