Estudo comparativo da implantacao ionica de potassio e fosforo em silicio amorfo para utilizacao em contatos injetores (1992)
- Authors:
- USP affiliated authors: ANDRADE, ADNEI MELGES DE - EP ; FONSECA, FERNANDO JOSEPETTI - EP
- Unidade: EP
- Assunto: SEMICONDUTORES
- Language: Português
- Imprenta:
- Publisher: Sbmicro/Epusp
- Publisher place: São Paulo
- Date published: 1992
- Source:
- Título: Anais
- Conference titles: Congresso da Sociedade Brasileira de Microeletronica
-
ABNT
FONSECA, Fernando Josepetti e ANDRADE, Adnei Melges de. Estudo comparativo da implantacao ionica de potassio e fosforo em silicio amorfo para utilizacao em contatos injetores. 1992, Anais.. São Paulo: Sbmicro/Epusp, 1992. . Acesso em: 28 dez. 2025. -
APA
Fonseca, F. J., & Andrade, A. M. de. (1992). Estudo comparativo da implantacao ionica de potassio e fosforo em silicio amorfo para utilizacao em contatos injetores. In Anais. São Paulo: Sbmicro/Epusp. -
NLM
Fonseca FJ, Andrade AM de. Estudo comparativo da implantacao ionica de potassio e fosforo em silicio amorfo para utilizacao em contatos injetores. Anais. 1992 ;[citado 2025 dez. 28 ] -
Vancouver
Fonseca FJ, Andrade AM de. Estudo comparativo da implantacao ionica de potassio e fosforo em silicio amorfo para utilizacao em contatos injetores. Anais. 1992 ;[citado 2025 dez. 28 ] - Luminescence properties of the TRIMEB inclusion compound of a europium tris-ß-diketonate
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