Efeito raman intensificado pela superficie da 4-picam e de seus complexos derivados de ' [FE'(cn) ind.5'] POT.3-'adsorvidos em eletrodo de prata (1990)
- Authors:
- USP affiliated authors: TEMPERINI, MARCIA LAUDELINA ARRUDA - IQ ; RUBIM, JOEL CAMARGO - IQ
- Unidade: IQ
- Subjects: FÍSICO-QUÍMICA; ELETROQUÍMICA
- Language: Português
- Imprenta:
- Publisher: Depto de Quimica da Fac Filos Ciencias e Letras de Rib Preto
- Publisher place: Ribeirao Preto
- Date published: 1990
- Source:
- Título do periódico: Anais
- Conference titles: Simposio Brasileiro de Eletroquimica e Eletroanalitica
-
ABNT
TEMPERINI, Márcia Laudelina Arruda e RUBIM, J C. Efeito raman intensificado pela superficie da 4-picam e de seus complexos derivados de ' [FE'(cn) ind.5'] POT.3-'adsorvidos em eletrodo de prata. 1990, Anais.. Ribeirao Preto: Depto de Quimica da Fac Filos Ciencias e Letras de Rib Preto, 1990. . Acesso em: 27 set. 2024. -
APA
Temperini, M. L. A., & Rubim, J. C. (1990). Efeito raman intensificado pela superficie da 4-picam e de seus complexos derivados de ' [FE'(cn) ind.5'] POT.3-'adsorvidos em eletrodo de prata. In Anais. Ribeirao Preto: Depto de Quimica da Fac Filos Ciencias e Letras de Rib Preto. -
NLM
Temperini MLA, Rubim JC. Efeito raman intensificado pela superficie da 4-picam e de seus complexos derivados de ' [FE'(cn) ind.5'] POT.3-'adsorvidos em eletrodo de prata. Anais. 1990 ;[citado 2024 set. 27 ] -
Vancouver
Temperini MLA, Rubim JC. Efeito raman intensificado pela superficie da 4-picam e de seus complexos derivados de ' [FE'(cn) ind.5'] POT.3-'adsorvidos em eletrodo de prata. Anais. 1990 ;[citado 2024 set. 27 ] - Estudo por espectroscopia raman ressonante e reflectancia in sity da oxidacao eletroquimica da difenilamina
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