Study of thick anodic oxide films on 'PT' by spectroscopic ellipsometry

Study of thick anodic oxide films on 'PT' by spectroscopic ellipsometry (1991)

Authors:
USP affiliated authors: GONZALEZ, ERNESTO RAFAEL - IQSC ; TICIANELLI, EDSON ANTONIO - IQSC ; TREMILIOSI FILHO, GERMANO - IQSC
Unidade: IQSC
Assunto: ELETROQUÍMICA
Language: Inglês
Imprenta:
- Publisher place: Pennington
- Date published: 1991
Source:
- Título: Journal of Electrochemical Society
- Volume/Número/Paginação/Ano: v.138, n.11, p.3219-24, nov. 1991

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ABNT

GOTTESFELD, S et al. Study of thick anodic oxide films on 'PT' by spectroscopic ellipsometry. Journal of Electrochemical Society, v. no 1991, n. 11, p. 3219-24, 1991Tradução . . Acesso em: 24 jan. 2026.
APA

Gottesfeld, S., Maia, G., Floriano, J. B., Tremiliosi Filho, G., Ticianelli, E. A., & Gonzalez, E. R. (1991). Study of thick anodic oxide films on 'PT' by spectroscopic ellipsometry. Journal of Electrochemical Society, no 1991( 11), 3219-24.
NLM

Gottesfeld S, Maia G, Floriano JB, Tremiliosi Filho G, Ticianelli EA, Gonzalez ER. Study of thick anodic oxide films on 'PT' by spectroscopic ellipsometry. Journal of Electrochemical Society. 1991 ; no 1991( 11): 3219-24.[citado 2026 jan. 24 ]
Vancouver

Gottesfeld S, Maia G, Floriano JB, Tremiliosi Filho G, Ticianelli EA, Gonzalez ER. Study of thick anodic oxide films on 'PT' by spectroscopic ellipsometry. Journal of Electrochemical Society. 1991 ; no 1991( 11): 3219-24.[citado 2026 jan. 24 ]