Anomalia na área superficial de géis de composição sílica / alumina (1991)
- Authors:
- Autor USP: AEGERTER, MICHEL ANDRE - IFSC
- Unidade: IFSC
- Assunto: MATÉRIA CONDENSADA (PROPRIEDADES MECÂNICAS)
- Language: Português
- Source:
- Título: Ceramica
- Volume/Número/Paginação/Ano: v.37, n.248, p.27, mar./abr. 1991
- Conference titles: Congresso Brasileiro de Ceramica
-
ABNT
BOZANO, D F et al. Anomalia na área superficial de géis de composição sílica / alumina. Ceramica. [S.l.]: Instituto de Física de São Carlos, Universidade de São Paulo. . Acesso em: 17 out. 2024. , 1991 -
APA
Bozano, D. F., Ito, J. M., Aegerter, M. A., & Bonardi, C. (1991). Anomalia na área superficial de géis de composição sílica / alumina. Ceramica. Instituto de Física de São Carlos, Universidade de São Paulo. -
NLM
Bozano DF, Ito JM, Aegerter MA, Bonardi C. Anomalia na área superficial de géis de composição sílica / alumina. Ceramica. 1991 ;37( 248): 27.[citado 2024 out. 17 ] -
Vancouver
Bozano DF, Ito JM, Aegerter MA, Bonardi C. Anomalia na área superficial de géis de composição sílica / alumina. Ceramica. 1991 ;37( 248): 27.[citado 2024 out. 17 ] - Sistema eletrocrômico de estado sólido: propostas de protótipos
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