Relation between short and open circuit measurements due to the motion of the zero field plane (1990)
- Autor:
- Autor USP: FERREIRA, GUILHERME FONTES LEAL - IFQSC
- Unidade: IFQSC
- Subjects: MATÉRIA CONDENSADA (PROPRIEDADES ELÉTRICAS); DIELÉTRICOS; MATÉRIA CONDENSADA
- Language: Inglês
- Source:
- Título do periódico: Japanese Journal Applied Physics
- Volume/Número/Paginação/Ano: v. 29, n. 4 , p. 681-682, 1990
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ABNT
LEAL FERREIRA, Guilherme Fontes. Relation between short and open circuit measurements due to the motion of the zero field plane. Japanese Journal Applied Physics, v. 29, n. 4 , p. 681-682, 1990Tradução . . Acesso em: 16 abr. 2024. -
APA
Leal Ferreira, G. F. (1990). Relation between short and open circuit measurements due to the motion of the zero field plane. Japanese Journal Applied Physics, 29( 4 ), 681-682. -
NLM
Leal Ferreira GF. Relation between short and open circuit measurements due to the motion of the zero field plane. Japanese Journal Applied Physics. 1990 ; 29( 4 ): 681-682.[citado 2024 abr. 16 ] -
Vancouver
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