Caracterizacao em microscopia eletronica de mecanismos de desgaste abrasivo (1989)
- Authors:
- Autor USP: VIEIRA, RENATO ROCHA - EP
- Unidade: EP
- Assunto: METALOGRAFIA
- Language: Português
- Imprenta:
- Source:
- Título: Anais
- Conference titles: Congresso Anual da Abm
-
ABNT
VIEIRA, Renato Rocha e ROTONDARO, Roberto. Caracterizacao em microscopia eletronica de mecanismos de desgaste abrasivo. 1989, Anais.. São Paulo: Abm, 1989. . Acesso em: 28 jan. 2026. -
APA
Vieira, R. R., & Rotondaro, R. (1989). Caracterizacao em microscopia eletronica de mecanismos de desgaste abrasivo. In Anais. São Paulo: Abm. -
NLM
Vieira RR, Rotondaro R. Caracterizacao em microscopia eletronica de mecanismos de desgaste abrasivo. Anais. 1989 ;[citado 2026 jan. 28 ] -
Vancouver
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