Caracterizacao de defeitos em monocristais de silicio com tecnicas de raios x (1986)
- Authors:
- Autor USP: STOJANOFF, VIVIAN - IF
- Unidade: IF
- Language: Português
- Source:
- Título do periódico: Ciência e Cultura
- Volume/Número/Paginação/Ano: v.38, n.7 supl., p.347, 1986
- Conference titles: Reunião Anual da SBPC
-
ABNT
BULLA, Douglas Anderson Pereira et al. Caracterizacao de defeitos em monocristais de silicio com tecnicas de raios x. Ciência e Cultura. [S.l.]: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. . Acesso em: 19 abr. 2024. , 1986 -
APA
Bulla, D. A. P., Castro Junior, W. E., Stojanoff, V., & Hahn, S. (1986). Caracterizacao de defeitos em monocristais de silicio com tecnicas de raios x. Ciência e Cultura. Instituto de Física, Universidade de São Paulo. -
NLM
Bulla DAP, Castro Junior WE, Stojanoff V, Hahn S. Caracterizacao de defeitos em monocristais de silicio com tecnicas de raios x. Ciência e Cultura. 1986 ;38( 7 supl.): 347.[citado 2024 abr. 19 ] -
Vancouver
Bulla DAP, Castro Junior WE, Stojanoff V, Hahn S. Caracterizacao de defeitos em monocristais de silicio com tecnicas de raios x. Ciência e Cultura. 1986 ;38( 7 supl.): 347.[citado 2024 abr. 19 ] - Caracterizacao de interfaces por incidencia rasante de raios-x em modo dispersivo
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