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Análise estatística do parâmetro de curto circuito para defeitos nas linhas (1993)

  • Authors:
  • USP affiliated authors: BOVOLATO, LUIZ FERNANDO - EP
  • Unidades: EP
  • Sigla do Departamento: PEA
  • Subjects: ENGENHARIA ELÉTRICA
  • Language: Português
  • Abstract: Este trabalho manipula os resultados de uma investigação estatística sobre correntes de curto-circuito e constantes de tempo da componente direta da corrente para faltas afetando as linhas. Distribuições e parâmetros típicos são obtidos para falta fase-terra, dupla fase isolada e trifásica isolada. E desenvolvido o método que permite a avaliação da distribuição de corrente de curto-circuito para faltas ao longo das linhas partindo da distribuição de correntes de curto-circuito nas barras e da distribuição de comprimentos das linhas. Estas informações são necessárias quando se pretende avaliar a solicitação sobre os equipamentos de uma subestação em relação a efetiva distribuição probabilística do parâmetro de curto-circuito, correspondentes aos possíveis diferentes pontos de falta ao longo do comprimento da linha. A aplicação do método a um sistema de potencia real conduz a resultados indicativos de que os atuais critérios de especificação de disjuntores, barramentos, transformadores de corrente, chaves seccionadoras, reatores para transmissão carrier e transformador de forca podem ser considerados conservadores, assim como os critérios de parada programada, definição de vida útil esperada e estoque de pecas de reposição.
  • Imprenta:
  • Data da defesa: 30.03.1993

  • How to cite
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    • ABNT

      BOVOLATO, Luiz Fernando; RIBEIRO, Fernando Selles. Análise estatística do parâmetro de curto circuito para defeitos nas linhas. 1993.Universidade de São Paulo, São Paulo, 1993.
    • APA

      Bovolato, L. F., & Ribeiro, F. S. (1993). Análise estatística do parâmetro de curto circuito para defeitos nas linhas. Universidade de São Paulo, São Paulo.
    • NLM

      Bovolato LF, Ribeiro FS. Análise estatística do parâmetro de curto circuito para defeitos nas linhas. 1993 ;
    • Vancouver

      Bovolato LF, Ribeiro FS. Análise estatística do parâmetro de curto circuito para defeitos nas linhas. 1993 ;

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