Desenvolvimento de uma tecnologia bifet (1986)
- Authors:
- Autor USP: FERNANDEZ, FRANCISCO JAVIER RAMIREZ - EP
- Unidade: EP
- Sigla do Departamento: PEL
- Assunto: ENGENHARIA ELÉTRICA
- Language: Português
- Abstract: O objetivo principal deste trabalho é o desenvolvimento de uma tecnologia BIFET, definindo os processos de fabricação, os meios de caracterização elétrica e uma metodologia de projeto de Circuitos Integrados. Apresentamos a tecnologia adotada e uma revisão dos processos de epitaxia, isolação e metalização compatíveis com Circuitos Integrados que operem até 40 Volts. É feita uma revisão dos meios de avaliação e controle da tecnologia propondo estruturas específicas para a caracterização elétrica dos processos de fabricação. Analisando os efeitos de altas correntes, são modelados analiticamente os mecanismos de defocalização no Emissor e numericamente a simultaneidade das defocalizações na Base e no Emissor, propondo soluções específicas para otimizar o desempenho do transistor de potência. É apresentado um modelo físico simples dos fenômenos de avalanche e a metodologia de extração de seus parâmetros. Visando a determinação das dispersões das características elétricas do circuito, como consequência das dispersões de fabricação, são identificados os parâmetros elétricos e tecnológicos independentes. Finalmente são apresentados os resultados da caracterização elétrica da estrutura, mostrando as correlações entre os parâmetros do modelo de carga do transistor bipolar.
- Imprenta:
- Data da defesa: 20.03.1986
-
ABNT
RAMÍREZ FERNANDEZ, Francisco Javier. Desenvolvimento de uma tecnologia bifet. 1986. Tese (Doutorado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 1986. . Acesso em: 10 jan. 2026. -
APA
Ramírez Fernandez, F. J. (1986). Desenvolvimento de uma tecnologia bifet (Tese (Doutorado). Universidade de São Paulo, São Paulo. -
NLM
Ramírez Fernandez FJ. Desenvolvimento de uma tecnologia bifet. 1986 ;[citado 2026 jan. 10 ] -
Vancouver
Ramírez Fernandez FJ. Desenvolvimento de uma tecnologia bifet. 1986 ;[citado 2026 jan. 10 ] - Instrumentação inteligente em sistemas dedicados
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