Desenvolvimento de amostras padrão de referência para difratometria (2011)
- Autores:
- Autor USP: GALVAO, ANTONIO DE SANT'ANA - IPEN
- Unidade: IPEN
- Assuntos: CRISTALOGRAFIA FÍSICA; DIFRAÇÃO POR RAIOS X; AMOSTRAGEM
- Idioma: Português
- Resumo: Neste trabalho foram desenvolvidas amostras de materiais padrão de referência para difratometria de policristais. Materiais de alta pureza foram tratados mecânica e termicamente até atingirem as características necessárias para serem usados como materiais padrão de referência de alta qualidade, comparáveis àqueles produzidos pelo NIST. As medidas foram feitas inicialmente em vários difratômetros convencionais de laboratório de difração de raios X, com geometria de Bragg -Brentano, difratômetros de nêutrons e, posteriormente, em equipamento de alta resolução com fonte síncrotron. Os parâmetros de rede obtidos foram calculados pelo programa Origin e ajustados pelo Método dos Mínimos Quadrados. Esses ajustes foram comparados com os obtidos pelo Método de Rietveld, usando o programa GSAS através da interface gráfica EXPGUI, mostrando-se bastante satisfatórios. Os materiais obtidos foram alumina-α, ítria, silício, céria, hexaboreto de lantânio e fluoreto de lítio, que apresentaram qualidade semelhante e, em alguns casos, superiores aos padrões desenvolvidos e comercializados pelo NIST, a custos bem menores
- Imprenta:
- Data da defesa: 05.05.2011
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ABNT
GALVAO, Antonio de Sant'Ana. Desenvolvimento de amostras padrão de referência para difratometria. 2011. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 2011. Disponível em: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/85/85134/tde-25082011-153452/. Acesso em: 19 set. 2024. -
APA
Galvao, A. de S. 'A. (2011). Desenvolvimento de amostras padrão de referência para difratometria (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/85/85134/tde-25082011-153452/ -
NLM
Galvao A de S'A. Desenvolvimento de amostras padrão de referência para difratometria [Internet]. 2011 ;[citado 2024 set. 19 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/85/85134/tde-25082011-153452/ -
Vancouver
Galvao A de S'A. Desenvolvimento de amostras padrão de referência para difratometria [Internet]. 2011 ;[citado 2024 set. 19 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/85/85134/tde-25082011-153452/
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