Precision interplanar spacings measurements of boron doped silicon (1982)
- Autores:
- Autores USP: PIMENTEL, CECILIA DE ALVARENGA FREIRE - IF ; SOARES, DEMETRIO ARTUR WERNER - IF
- Unidade: IF
- Assunto: FÍSICA
- Idioma: Inglês
- Imprenta:
-
ABNT
SOARES, Demetrio Artur Werner e PIMENTEL, Cecília Alvarenga. Precision interplanar spacings measurements of boron doped silicon. . São Paulo: IFUSP. Disponível em: http://publica-sbi.if.usp.br/PDFs/pd334.pdf. Acesso em: 18 abr. 2024. , 1982 -
APA
Soares, D. A. W., & Pimentel, C. A. (1982). Precision interplanar spacings measurements of boron doped silicon. São Paulo: IFUSP. Recuperado de http://publica-sbi.if.usp.br/PDFs/pd334.pdf -
NLM
Soares DAW, Pimentel CA. Precision interplanar spacings measurements of boron doped silicon [Internet]. 1982 ;[citado 2024 abr. 18 ] Available from: http://publica-sbi.if.usp.br/PDFs/pd334.pdf -
Vancouver
Soares DAW, Pimentel CA. Precision interplanar spacings measurements of boron doped silicon [Internet]. 1982 ;[citado 2024 abr. 18 ] Available from: http://publica-sbi.if.usp.br/PDFs/pd334.pdf
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