Análise das curvas C-V em estruturas PI-GATE SOI MOSFET (2008)
- Autores:
- Autor USP: MARTINO, JOAO ANTONIO - EP
- Unidade: EP
- Assunto: CIRCUITOS ELETRÔNICOS
- Idioma: Português
- Imprenta:
- Editora: Universidade de São Paulo
- Local: São Paulo
- Data de publicação: 2008
- Fonte:
- Título do periódico: 16 SIICUSP: anais.
- Nome do evento: Simpósio Internacional de Iniciação Científica da Universidade de São Paulo
-
ABNT
ZANCHIN, Vinicius Ramos e RODRIGUES, Michele. Análise das curvas C-V em estruturas PI-GATE SOI MOSFET. 2008, Anais.. São Paulo: Universidade de São Paulo, 2008. . Acesso em: 18 abr. 2024. -
APA
Zanchin, V. R., & Rodrigues, M. (2008). Análise das curvas C-V em estruturas PI-GATE SOI MOSFET. In 16 SIICUSP: anais.. São Paulo: Universidade de São Paulo. -
NLM
Zanchin VR, Rodrigues M. Análise das curvas C-V em estruturas PI-GATE SOI MOSFET. 16 SIICUSP: anais. 2008 ;[citado 2024 abr. 18 ] -
Vancouver
Zanchin VR, Rodrigues M. Análise das curvas C-V em estruturas PI-GATE SOI MOSFET. 16 SIICUSP: anais. 2008 ;[citado 2024 abr. 18 ] - Temperature influences on the drain leakage current behavior in graded-channel SOI nMOSFETs
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