Characterization of tin and tic films deposited by magnetron sputtering using nanoindentation and atomic force microscopy (2006)
- Authors:
- USP affiliated authors: SOUZA, ROBERTO MARTINS DE - EP ; TSCHIPTSCHIN, ANDRE PAULO - EP ; KUNIOSHI, CLARICE TERUI - EP ; MACIEL, HOMERO SANTIAGO - EP
- Unidade: EP
- Subjects: FILMES FINOS; RESISTÊNCIA DOS MATERIAIS; PROPRIEDADES DOS MATERIAIS
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Publisher: SBPMat
- Publisher place: Rio de Janeiro
- Date published: 2006
- Source:
- Título do periódico: Final Program
- Volume/Número/Paginação/Ano: Rio de Janeiro : SBPMat, 2006
- Conference titles: Encontro da Sociedade Brasileira de Pesquisas em Materiais (SBPMat
-
ABNT
RECCO, Abel André Cândido et al. Characterization of tin and tic films deposited by magnetron sputtering using nanoindentation and atomic force microscopy. 2006, Anais.. Rio de Janeiro: SBPMat, 2006. Disponível em: https://repositorio.usp.br/directbitstream/df438757-77b2-458b-a0f7-0382b3952f0e/Souza_RM-2006-characterization%20of%20tin%20and%20tic%20films.pdf. Acesso em: 19 abr. 2024. -
APA
Recco, A. A. C., Kunioshi, C. T., Moré Farías, M. C., Oliveira, I. C., Maciel, H. S., Souza, R. M. de, & Tschiptschin, A. P. (2006). Characterization of tin and tic films deposited by magnetron sputtering using nanoindentation and atomic force microscopy. In Final Program. Rio de Janeiro: SBPMat. Recuperado de https://repositorio.usp.br/directbitstream/df438757-77b2-458b-a0f7-0382b3952f0e/Souza_RM-2006-characterization%20of%20tin%20and%20tic%20films.pdf -
NLM
Recco AAC, Kunioshi CT, Moré Farías MC, Oliveira IC, Maciel HS, Souza RM de, Tschiptschin AP. Characterization of tin and tic films deposited by magnetron sputtering using nanoindentation and atomic force microscopy [Internet]. Final Program. 2006 ;[citado 2024 abr. 19 ] Available from: https://repositorio.usp.br/directbitstream/df438757-77b2-458b-a0f7-0382b3952f0e/Souza_RM-2006-characterization%20of%20tin%20and%20tic%20films.pdf -
Vancouver
Recco AAC, Kunioshi CT, Moré Farías MC, Oliveira IC, Maciel HS, Souza RM de, Tschiptschin AP. Characterization of tin and tic films deposited by magnetron sputtering using nanoindentation and atomic force microscopy [Internet]. Final Program. 2006 ;[citado 2024 abr. 19 ] Available from: https://repositorio.usp.br/directbitstream/df438757-77b2-458b-a0f7-0382b3952f0e/Souza_RM-2006-characterization%20of%20tin%20and%20tic%20films.pdf - Influência da razão entre a dureza e o módulo de elasticidade (H/E) na aderência de revestimentos de TiN e TiC depositados sobre aço AISI H13
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| Tipo | Nome | Link | |
|---|---|---|---|
 | Souza_RM-2006-characteriz... |
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