Atomic force microscope nanolithography of polymethylmethacrylate polymer (2007)
- Autores:
- Autores USP: MANSANO, RONALDO DOMINGUES - EP ; SALVADORI, MARIA CECILIA BARBOSA DA SILVEIRA - IF ; CATTANI, MAURO SERGIO DORSA - IF
- Unidades: EP; IF
- DOI: 10.1063/1.2736311
- Assuntos: MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA; POLÍMEROS (MATERIAIS)
- Idioma: Inglês
- Imprenta:
- Fonte:
- Título do periódico: Review of Scientific Instruments
- ISSN: 0034-6748
- Volume/Número/Paginação/Ano: v. 78, n. 4, p. 053702-053702/3
- Este periódico é de assinatura
- Este artigo NÃO é de acesso aberto
- Cor do Acesso Aberto: closed
-
ABNT
TEIXEIRA, Fernanda de Sá et al. Atomic force microscope nanolithography of polymethylmethacrylate polymer. Review of Scientific Instruments, v. 78, n. 4, p. 053702-053702/3, 2007Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/1.2736311. Acesso em: 24 abr. 2024. -
APA
Teixeira, F. de S., Mansano, R. D., Salvadori, M. C. B. da S., Cattani, M. S. D., & Brown, I. G. (2007). Atomic force microscope nanolithography of polymethylmethacrylate polymer. Review of Scientific Instruments, 78( 4), 053702-053702/3. doi:10.1063/1.2736311 -
NLM
Teixeira F de S, Mansano RD, Salvadori MCB da S, Cattani MSD, Brown IG. Atomic force microscope nanolithography of polymethylmethacrylate polymer [Internet]. Review of Scientific Instruments. 2007 ; 78( 4): 053702-053702/3.[citado 2024 abr. 24 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.2736311 -
Vancouver
Teixeira F de S, Mansano RD, Salvadori MCB da S, Cattani MSD, Brown IG. Atomic force microscope nanolithography of polymethylmethacrylate polymer [Internet]. Review of Scientific Instruments. 2007 ; 78( 4): 053702-053702/3.[citado 2024 abr. 24 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.2736311 - A near sinusoidal surface morphology created by scan-induced contact AFM nanolithography on PMMA polymer
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Informações sobre o DOI: 10.1063/1.2736311 (Fonte: oaDOI API)
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