Roughness and nanoholes in sol-gel thin films (2005)
- Autores:
- Autores USP: BRITO, GIANCARLO ESPOSITO DE SOUZA - IF ; MORELHAO, SERGIO LUIZ - IF
- Unidade: IF
- DOI: 10.1016/j.mejo.2005.02.078
- Assuntos: MICROELETRÔNICA; FILMES FINOS
- Idioma: Inglês
- Imprenta:
- Fonte:
- Título do periódico: Microelectronics Journal
- ISSN: ISSN:0026-3692
- Volume/Número/Paginação/Ano: v. 36, n. 3-6, p. 567-569, 2005
- Este periódico é de assinatura
- Este artigo NÃO é de acesso aberto
- Cor do Acesso Aberto: closed
-
ABNT
ANTUNES, A et al. Roughness and nanoholes in sol-gel thin films. Microelectronics Journal, v. 36, n. 3-6, p. 567-569, 2005Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.mejo.2005.02.078. Acesso em: 23 abr. 2024. -
APA
Antunes, A., Amaral, T., Brito, G. E. de S., Abramof, E., & Morelhao, S. L. (2005). Roughness and nanoholes in sol-gel thin films. Microelectronics Journal, 36( 3-6), 567-569. doi:10.1016/j.mejo.2005.02.078 -
NLM
Antunes A, Amaral T, Brito GE de S, Abramof E, Morelhao SL. Roughness and nanoholes in sol-gel thin films [Internet]. Microelectronics Journal. 2005 ; 36( 3-6): 567-569.[citado 2024 abr. 23 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.mejo.2005.02.078 -
Vancouver
Antunes A, Amaral T, Brito GE de S, Abramof E, Morelhao SL. Roughness and nanoholes in sol-gel thin films [Internet]. Microelectronics Journal. 2005 ; 36( 3-6): 567-569.[citado 2024 abr. 23 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.mejo.2005.02.078 - Quantitative EPR analysis of cells labeled with anioci iron oxide nanoparticles
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Informações sobre o DOI: 10.1016/j.mejo.2005.02.078 (Fonte: oaDOI API)
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