Medidas do módulo elástico de filmes finos metálicos (2004)
- Autores:
- Autor USP: VAZ, ALFREDO RODRIGUES - IF
- Unidade: IF
- Sigla do Departamento: FAP
- Assuntos: FILMES FINOS; MICROSCOPIA ELETRÔNICA
- Idioma: Português
- Resumo: Neste trabalho determinamos o módulo elástico de filmes finos metálicos nanoestruturados. Os metais estudados, platina, ouro e paládio foram depositados utilizando a técnica de Metal Plasma Immersion Ion Implantation and Deposition. Um novo método foi utilizado para as medidas de módulo elástico, no qual cantiléveres de microscopia de força atômica são uniformemente recobertos com os filmes finos metálicos. Medidas das frequências de ressonância dos cantiléveres foram realizadas antes e depois dos recobrimentos com os filmes. Usando a teoria de vibração de barras, determinamos os valores dos módulos elásticos desses filmes. Obtivemos valores que estão entre 7 e 12% menores do que os respectivos módulos elásticos dos metais na forma de bulk. Um modelo simples em conta o caráter nanoestruturado dos materiais. Caracterizações complementares foram realizadas como : microscopia de tunelamento, difração de raios X e RBS (Rutherfor Backscattering Spectrometry)
- Imprenta:
- Data da defesa: 22.03.2004
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ABNT
VAZ, Alfredo Rodrigues. Medidas do módulo elástico de filmes finos metálicos. 2004. Tese (Doutorado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 2004. . Acesso em: 18 abr. 2024. -
APA
Vaz, A. R. (2004). Medidas do módulo elástico de filmes finos metálicos (Tese (Doutorado). Universidade de São Paulo, São Paulo. -
NLM
Vaz AR. Medidas do módulo elástico de filmes finos metálicos. 2004 ;[citado 2024 abr. 18 ] -
Vancouver
Vaz AR. Medidas do módulo elástico de filmes finos metálicos. 2004 ;[citado 2024 abr. 18 ]
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