Microstructure characterization of magnetron sputtered Ti and Zr thin films (2002)
- Autores:
- Autor USP: OPPENHEIM, IVETTE FRIDA CYMBAUM - EP
- Unidade: EP
- Assuntos: MATERIAIS; FILMES FINOS
- Idioma: Inglês
- Imprenta:
- Editora: SBPMat
- Local: Rio de Janeiro
- Data de publicação: 2002
- Fonte:
- Título do periódico: Programa e Livro de Resumos
- Nome do evento: Encontro da Sociedade Brasileira de Pesquisa em Materiais
-
ABNT
CHINAGLIA, Eliane F. e OPPENHEIM, Ivette Frida Cymbaum. Microstructure characterization of magnetron sputtered Ti and Zr thin films. 2002, Anais.. Rio de Janeiro: SBPMat, 2002. . Acesso em: 19 abr. 2024. -
APA
Chinaglia, E. F., & Oppenheim, I. F. C. (2002). Microstructure characterization of magnetron sputtered Ti and Zr thin films. In Programa e Livro de Resumos. Rio de Janeiro: SBPMat. -
NLM
Chinaglia EF, Oppenheim IFC. Microstructure characterization of magnetron sputtered Ti and Zr thin films. Programa e Livro de Resumos. 2002 ;[citado 2024 abr. 19 ] -
Vancouver
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