Optical constants and thickness determination of very thin amorphous semiconductor films (2002)
- Autores:
- Autor USP: BIRGIN, ERNESTO JULIAN GOLDBERG - IME
- Unidade: IME
- DOI: 10.1063/1.1500785
- Assuntos: ALGORITMOS; SEMICONDUTORES; DIELÉTRICOS
- Agências de fomento:
- Idioma: Inglês
- Imprenta:
- Local: Melville, NY
- Data de publicação: 2002
- Fonte:
- Título do periódico: Journal of Applied Physics
- ISSN: 0021-8979
- Volume/Número/Paginação/Ano: v. 92, n. 6, p. 3093-3102, 2002
- Este periódico é de assinatura
- Este artigo NÃO é de acesso aberto
- Cor do Acesso Aberto: closed
-
ABNT
CHAMBOULEYRON, Ivan Emílio et al. Optical constants and thickness determination of very thin amorphous semiconductor films. Journal of Applied Physics, v. 92, n. 6, p. 3093-3102, 2002Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/1.1500785. Acesso em: 23 abr. 2024. -
APA
Chambouleyron, I. E., Ventura, S. D., Birgin, E. J. G., & Martínez, J. M. (2002). Optical constants and thickness determination of very thin amorphous semiconductor films. Journal of Applied Physics, 92( 6), 3093-3102. doi:10.1063/1.1500785 -
NLM
Chambouleyron IE, Ventura SD, Birgin EJG, Martínez JM. Optical constants and thickness determination of very thin amorphous semiconductor films [Internet]. Journal of Applied Physics. 2002 ; 92( 6): 3093-3102.[citado 2024 abr. 23 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.1500785 -
Vancouver
Chambouleyron IE, Ventura SD, Birgin EJG, Martínez JM. Optical constants and thickness determination of very thin amorphous semiconductor films [Internet]. Journal of Applied Physics. 2002 ; 92( 6): 3093-3102.[citado 2024 abr. 23 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.1500785
Informações sobre o DOI: 10.1063/1.1500785 (Fonte: oaDOI API)
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