Enhanced triple-fase measurement at 'ômicron'/2-scattering geometry (2002)
- Autores:
- Autor USP: MORELHAO, SERGIO LUIZ - IF
- Unidade: IF
- Assuntos: MAGNETISMO; MATERIAIS MAGNÉTICOS
- Idioma: Inglês
- Imprenta:
- Fonte:
- Título do periódico: Resumos
- Nome do evento: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada
-
ABNT
MORELHÃO, Sérgio Luiz e KYCIA, Stefan. Enhanced triple-fase measurement at 'ômicron'/2-scattering geometry. 2002, Anais.. São Paulo: SBF, 2002. . Acesso em: 18 abr. 2024. -
APA
Morelhão, S. L., & Kycia, S. (2002). Enhanced triple-fase measurement at 'ômicron'/2-scattering geometry. In Resumos. São Paulo: SBF. -
NLM
Morelhão SL, Kycia S. Enhanced triple-fase measurement at 'ômicron'/2-scattering geometry. Resumos. 2002 ;[citado 2024 abr. 18 ] -
Vancouver
Morelhão SL, Kycia S. Enhanced triple-fase measurement at 'ômicron'/2-scattering geometry. Resumos. 2002 ;[citado 2024 abr. 18 ] - High-resolution synchrotron radiation Renninger scan to examine hybrid reflections in InGaP/GaAs(001)
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