Caracterização de propriedades nanomecânicas de superfícies e filmes finos utilizando um Microscopio de Força Atômica (MFA) (2000)
- Authors:
- USP affiliated authors: MASTELARO, VALMOR ROBERTO - IFSC ; SILVA, MARCELO DE ASSUMPCAO PEREIRA DA - IFSC
- Unidade: IFSC
- Assunto: MATÉRIA CONDENSADA
- Language: Português
- Imprenta:
- Publisher: Sociedade Brasileira de Física
- Publisher place: São Paulo
- Date published: 2000
- Source:
- Título do periódico: Resumo
- Conference titles: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada
-
ABNT
MASTELARO, Valmor Roberto e SILVA, Marcelo de Assumpção Pereira da. Caracterização de propriedades nanomecânicas de superfícies e filmes finos utilizando um Microscopio de Força Atômica (MFA). 2000, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física, 2000. . Acesso em: 24 abr. 2024. -
APA
Mastelaro, V. R., & Silva, M. de A. P. da. (2000). Caracterização de propriedades nanomecânicas de superfícies e filmes finos utilizando um Microscopio de Força Atômica (MFA). In Resumo. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física. -
NLM
Mastelaro VR, Silva M de AP da. Caracterização de propriedades nanomecânicas de superfícies e filmes finos utilizando um Microscopio de Força Atômica (MFA). Resumo. 2000 ;[citado 2024 abr. 24 ] -
Vancouver
Mastelaro VR, Silva M de AP da. Caracterização de propriedades nanomecânicas de superfícies e filmes finos utilizando um Microscopio de Força Atômica (MFA). Resumo. 2000 ;[citado 2024 abr. 24 ] - Microscopia de força atômica aplicada a polímeros. (Em CD-ROM)
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