Análise estrutural e morfológica por raios X (1998)
- Autor:
- Autor USP: FANTINI, MARCIA CARVALHO DE ABREU - IF
- Unidade: IF
- Assunto: MATÉRIA CONDENSADA
- Language: Português
- Imprenta:
- Conference titles: Escola Brasileira de Magnetismo
-
ABNT
FANTINI, Márcia Carvalho de Abreu. Análise estrutural e morfológica por raios X. 1998, Anais.. São Paulo: Ifusp, 1998. . Acesso em: 23 abr. 2024. -
APA
Fantini, M. C. de A. (1998). Análise estrutural e morfológica por raios X. In . São Paulo: Ifusp. -
NLM
Fantini MC de A. Análise estrutural e morfológica por raios X. 1998 ;[citado 2024 abr. 23 ] -
Vancouver
Fantini MC de A. Análise estrutural e morfológica por raios X. 1998 ;[citado 2024 abr. 23 ] - Liquid junctions for characterization of electronic materials . Iv. Impendance spectroscopy of reactive ion etched 'SI'
- Propriedades estruturais de filmes eletrocromicos de 'NI''O IND.X'
- Dependencia da tensao mecanica de intercalacao ionica com a estrutura em oxidos de v,'NB' e 'NI'
- Dependencia da tensao mecanica de intercalacao ionica com a estrutura em oxidos de v,'NB' e 'NI'
- Caracterização por difração de raios-x de super-redes de a-'SI': h / a-'GE' : h
- Investigacao sobre a micro-textura de fitas supercondutoras a base de bismuto
- Estudo de corrosao em ligas de 'FE'-'NI' por difracao de raios-x e microscopia optica e eletronica
- Sputtered electrochromic 'NI''O IND.X' thin films: the dependence on the oxygen flux
- Sputtered electrochromic 'NI''O IND.X' thin films: the dependence on the oxygen flux
- Sobre as propriedade estruturais de filmes finos eletrocromicos de oxido de niquel crescidos por rf-sputtering
How to cite
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
