Model of brittle materials single point machining with high removal rates (1996)
- Autores:
- Autores USP: PORTO, ARTHUR JOSE VIEIRA - EESC ; DUDUCH, JAIME GILBERTO - EESC
- Unidade: EESC
- Assunto: FERRAMENTAS
- Idioma: Inglês
- Imprenta:
- Local: Florianopolis
- Data de publicação: 1996
- Fonte:
- Título do periódico: Revista Brasileira de Ciencias Mecanicas
- Volume/Número/Paginação/Ano: v.18, n.1 , p.33-9, 1996
-
ABNT
DUDUCH, Jaime Gilberto e JASINEVICIUS, R G e GEE, A E. Model of brittle materials single point machining with high removal rates. Revista Brasileira de Ciencias Mecanicas, v. 18, n. 1 , p. 33-9, 1996Tradução . . Acesso em: 19 abr. 2024. -
APA
Duduch, J. G., Jasinevicius, R. G., & Gee, A. E. (1996). Model of brittle materials single point machining with high removal rates. Revista Brasileira de Ciencias Mecanicas, 18( 1 ), 33-9. -
NLM
Duduch JG, Jasinevicius RG, Gee AE. Model of brittle materials single point machining with high removal rates. Revista Brasileira de Ciencias Mecanicas. 1996 ;18( 1 ): 33-9.[citado 2024 abr. 19 ] -
Vancouver
Duduch JG, Jasinevicius RG, Gee AE. Model of brittle materials single point machining with high removal rates. Revista Brasileira de Ciencias Mecanicas. 1996 ;18( 1 ): 33-9.[citado 2024 abr. 19 ] - Chip morphology in ductile-regime diamond turning of single crystal silicon
- Otimização do processo de usinagem de materiais frágeis com ferramenta de ponta única de diamante
- Ultra-precision manufacturing technology and the mechanical and opto-electro nic industry
- Avaliação do desempenho de um sistema de posicionamento angular
- Raman characterization of structural disorder and residual strains in micromachined 'GA''AS'
- Desenvolvimento de um dispositivo empregando usinagem de ultraprecisão para correção dimensional de peças anesféricas
- Chip topography and morphology of diamond turned 'AL'-'MG' alloy for mirrors
- Influencia del numero de pasadas en la calidad de las superficies opticas reflexivas
- Ductile and brittle modes in single-point-diamond-turning of silicon probed by Raman scattering
- Reconhecimento de imagens aplicado a sistemas de posicionamento de alta precisão
Como citar
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
